电子探针显微分析(EPMA)技术是一种高精度的微区元素分析方法,以其卓越的微观分析能力在材料科学、生物学和环境研究中发挥着重要作用。铄思百检测小编今天给大家介绍一下电子探针的应用场景:
定点分析
定点分析:对样品表面选定微区作定点的全谱扫描,进行定性或半定量分析,并对其所含元素的质量分数进行定量分析。
线扫描分析
线扫描分析:电子束沿样品表面选定的直线轨迹进行所含元素质量分数的定性或半定量分析。
面扫描分析
面扫描分析:即电子束在样品表面作光栅式面扫描,以特定元素的X射线的信号强度调制阴极射线管荧光屏的亮度,获得该元素质量分数分布的扫描图像。元素在试样表面的分布能在屏幕上以亮度(或彩色)分布显示出来(定性分析),亮度越亮,说明元素含量越高。研究材料中杂质、相的分布和元素偏析常用此方法,通常与显微形貌对照分析。
【注】定点分析灵敏度最高,面扫描分析灵敏度最低,但观察元素分布最直观。
基体构成分布
通过点分析、线分析和面分析对钕铁硼磁性材料微区的基体相微观特征、化学组成和分布以及晶界扩散进行了直观地表征。高倍下的显微形貌观察和元素分布表征可以区分晶相的微观结构分布和构成。在晶界改性方面,研究元素掺杂引起的晶界特征。其基体由基体相、富Nd相、富Nd相晶粒和晶界相等4类构成。
钕铁硼磁体中的4种相:(a)背散射图像;(b)元素 Nd 面分布图像
基体相晶粒定量测试
由于超轻元素和不同的元素结合时,其特征峰会有峰位和峰形的变化,所以标样和未知试样的特征峰位和背景峰位要分别予以设定,延长测试时间,增强测试灵敏度。对于稀土元素,不同元素的特征峰和背景峰可能会有干扰影响,要每个元素都分别确认,需避开干扰重叠。
添加稀土元素如Tb和Dy等进行合金化处理,是提高钕铁硼磁性性能的有效方法,通过晶界掺杂和晶界扩散两种方式实现晶界改性。通过电子探针元素面分析结果,从中可以看出掺杂元素主要分布的晶界位置。
晶界改性的钕铁硼磁体主要元素分布特征:(a)背散射图像;(b)元素 B分布图;(c)元素O分布图;(d)元素Tb分布图;(e)元素Co分布图;(f)元素Cu分布图;(g)元素Ga分布图;(h)元素Pr分布图;(i)元素 Nd 分布图
文献来源:赵同新, 吉见聪, 孙友宝,等. 电子探针在钕铁硼磁性材料表征中的应用[J]. 物理测试, 2022(1):7.
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