AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是在扫描隧道显微镜之后发明的一种高分辨的新型显微仪器,具有原子级别的识别能力,可以在多种环境下(空气或者具有溶液的环境下)对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测,包括对表面形貌进行探测以及测量表面纳米级的粗糙度。
目前,AFM(原子力显微镜)已广泛应用于各个领域,包括半导体、纳米功能材料、生物、化工、医药等研究领域中,成为科学研究中重要的工具之一。
AFM原子力显微镜应用范围:
8. 纳米电子学,量子点、纳米线、量子结构。
4. 纳米加工:纳米压痕/划痕等。
AFM原子力显微镜测试案例:
AFM原子力显微镜样品要求: