AES俄歇电子能谱
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仪器名称： | 俄歇电子能谱（AES） | 型号： | Thermo Scientific Escalab 250Xi |
检测项目： | 1.能分析≥20nm直径的异物成分，且异物的厚度不受限制（能达到单个原子层厚度，0.5nm）。 2.利用AES的深度溅射功能测试≥3nm膜厚厚度。 3.利用D-SIMS结合AES能准确测定各层薄膜厚度及组成成分。 | ||
应用范围： | 应用于鉴定样品表面的化学性质及组成的分析，其特点在俄歇电子来极表面甚至单个原子层，仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点，广泛应用于材料分析以及催化、吸附、腐蚀、磨损等方面的研究。 | ||
制样要求： | 1.样品最大规格尺寸为1×1×0.5cm，当样品尺寸过大需切割取样。 2.取样的时候避免手和取样工具接触到需要测试的位置，取下样品后使用真空包装或其他能隔离外界环境的包装， 避免外来污染影响分析结果。 3.由于AES测试深度太浅，无法对样品喷金后再测试，所以绝缘的样品不能测试，只能测试导电性较好的样品。 4.AES元素分析范围Li-U，只能测试无机物质，不能测试有机物物质，检出限0.1%。 | ||
测试提示：
1.可开正规测试发票，附带测试清单。
2.有腐蚀性，毒性，或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员，测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤，测试后会对样品产生哪些变化；
3.客户需提供详细的样品资料，包括元素，主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论，商定最终测试条件；
4.测试人员与顾客通过QQ或邮件沟通，出现测试纠纷，邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据；请加QQ和技术人员交流：82187958。
5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品，一经发现将追究其法律责任。
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