铄思百检测可为您提供原子力显微镜（AFM）服务，AFM测试可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵；现已广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中，成为纳米科学研究的基本工具。
在做AFM测试时，铄思百检测在与很多同学沟通中了解到，好多同学对此项目不太了解，针对此，铄思百检测平台团队组织相关同事对球差电镜测试进行问题收集并整理，希望可以帮助到科研圈的伙伴们；
1、样品导电性不好，需要喷金吗？
答：AFM对样品表面的导电性没有要求，可以测导电的和不导电的。
2、AFM可以分析材料的亲疏水性吗？如何判断？
答：可以分析，需要用液下模式。
3、AFM和MFM都可以出形貌图，这两种有什么区别？以哪个为准？
答：AFM出的图是形貌图，MFM出的图是抬起模式相图也就是磁畴分布图，在分析相图时需要对比形貌图，分析两者之间的差异从而得到磁分布的信息。
4、测量样品起伏度有极限值吗？
答：有极限值，最好1微米之内，5微米以内根据样品性质用轻敲模式扫描时降低扫描1速度可以实现，大于5微米的样品不建议使用AFM进行测试。
5、样品尺寸较大，微米级的可以测吗？检测有必要吗？
答：样品尺寸横向大小微米级的可以使用AFM测试，根据你想得到的材料信息来判断有没有检测的必要，如果微米级起伏根据第4条回答来判断。
6、AFM力曲线中位移-力曲线和距离-力曲线如何转化？转化过程中需要注意哪些细节？
答：F-Z转换成F-D曲线可以在分析软件中修改，将display mode改为Force vs sep就可以直接转换。
7、样品是粉末，疏松度十分疏松，测量时，会不会因为粉末疏松，测不了啊？
答：一般粉末样品需要分散到硅片或云母表面测试。
8、测量时，探针会不会将表面形貌破坏啊？
答：样品较软时采用峰值力轻敲模式扫描，将力设置小一些就不会对表面形貌造成破坏。
9、磁学MFM测量探针的镀层是Co的话，Co易氧化，如何保存？
答：一般是Co-Cr的镀层，不会被氧化，没有特殊保存要求。
10、AFM扫描过程中，力曲线反应的是什么物理图像？
答：力曲线反应的是样品与探针之间的作用力。
11、MESP针最大磁场可以加到多大？
答：MESP的探针矫顽力在400Oe，测试的样品磁性较强时建议使用高矫顽力的探针或者低磁矩探针。
12、有镀层的针会不会更粗一些？
答：不会，一般探针针尖在2nm，镀层可以镀的厚度很薄，可以忽略。
13、AFM图上出现波纹状结构是什么原因呢？
答：AFM图上出现波纹考虑是激光干涉或机械振动，可以根据条纹的数量确定是高频还是低频噪声，激光干涉的话需要重新调节激光的位置，机械振动的话检查气浮台和真空吸附开关有没有打开。
14、电化学原子力显微镜是哪种？
答：将接触式的原子力显微镜用于电解质溶液研究电极的表面形貌，其力的作用原理与大气中的AFM相同。
以上是原子力显微镜（AFM测试）问题的相关整理，如需测试服务请联系铄思百检测工程师！