全站搜索
副标题
 
图文展示
副标题
电镜测试
　透射电子显微镜（TEM-EDS）
　扫描电子显微镜（FESEM-EDS）
   球差电镜
   原子力显微镜（AFM）
   金相显微镜
   激光共聚焦显微镜（LSCM）
　电子背散射衍射仪（EBSD）
　电子探针仪（EPMA)
　电镜制样
   FIB制样
   冷冻超薄切片加工
   离子减薄制样
　树脂包埋制样（生物制样）
   金网/铜网/碳膜/微栅
   截面液氮脆断
   喷金喷碳
　核磁顺磁波谱测试
   电子自旋仪（顺磁）（EPR/ESR）
   固体核磁共振仪（NMR）
   液体核磁共振仪（NMR）
　光谱测试
   X射线光电子能谱分析仪（XPS）
   紫外光电子能谱（UPS)
   俄歇电子能谱（AES）
   X射线衍射仪（XRD）（变温，掠入角，小角，广角）
   X射线残余应力分析仪
   X射线荧光光谱分析仪（XRF）
   电感耦合等离子体光谱仪（ICP-OES）
   傅里叶变换红外光谱分析仪（FTIR）
   （吡啶红外）傅立叶变换红外光谱仪（FT-IR，DRIFTS）
   单晶衍射仪（可分析）
   拉曼光谱（RAMAN）(变温）
   紫外-可见分光光度计(UV)
   紫外可见反射仪(DRS)
   电子背散射衍射测试(EBSD)
   穆斯堡尔光谱仪
   红外热成像仪
   台阶仪，膜厚仪，探针接触式轮廓仪，3D轮廓仪
   稳态瞬态荧光光谱分析仪（PL）
   原子吸收分光光度计
   原子荧光光度计（AFS)
   圆二色谱(CD)
   雾度仪
   旋光仪
色谱测试
   气相色谱仪（GC）
   液相色谱（LC)
   高效液相色谱仪（HPLC）
   凝胶色谱仪（GPC）（变温）
   离子色谱仪（IC）
　质谱测试
   电喷雾离子化质谱仪(ESI-MS)
   基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪(MALDI-TOF-MS)
   同位素质谱仪
   二次离子质谱（SIMS）
   气质联用仪（GC-MS）
   液质联用仪（LC-MS）
   裂解气质联用仪（PY-GC-MS）
   顶空-固相微萃取气质联用仪（HS -SPME -GC -MS）
   电感耦合等离子体质谱测试(ICP-MS)
热谱测试　
   差示扫描量热仪（DSC）
   热重分析仪（TGA）
   动态热机械分析仪（DMA）
   DSC-TGA热分析联用仪（DSC-TGA）（可高温1500摄氏度）
   热重红外联用仪（TG-IR）
   热重红外质谱联用（TG-IR-MS）
   热重红外气相质谱联用（TG-IR-GC-MS）
   激光导热仪
　表界面物性测试
   比表面及孔径分析仪（BET）
   高压吸附仪
   表面张力仪（界面张力仪）
   接触角测量仪
   压汞仪
   化学吸附仪（TPD/TPR）
   纳米压痕仪
　电化学仪器
   自动电位滴定仪
   电导率仪
   电化学工作站
   腐蚀测试仪
   介电常数测定仪
    卡尔费休水分测定仪
其他测试
　能谱仪（EDS）
   振动样品磁强计（VSM） (变温)（MT，MH）
   激光粒度仪
   纳米粒度仪
   Zeta电位仪
   流变仪
   密度测定仪
   邵氏/维氏/洛氏硬度计
   粘度计
   工业分析
   总有机碳分析仪（TOC）
   有机元素分析仪(O,C,H,N,S)
   有机卤素分析仪（F，Cl，Br，I,At，Ts)
   万能试验机
   四探针测试（可原位）
   土壤分析测试+
   其他测试+