离子减薄制样

离子减薄制样

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离子减薄制样

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仪器名称:
离子减薄制样
型号:
Gatan PIPS 695
Gatan PIPS 691
检测项目:
离子束减薄,表面氧化膜去除
应用范围:
适用于陶瓷、半导体、合金及薄膜截面样品离子束减薄。适用于合金样品表面氧化膜去除。可以单面或双面做样品离子束减薄;设备配有冷台,减少由于离子束轰击产生热量使样品析出相发生变化。运用该仪器制备的样品中间的薄区可用于透射电镜观测
制样要求
处理前试样厚度:D<0.08mm

PS:送样请附带“委托测试单”。


测试提示:

1.可开正规测试发票,附带测试清单。

2.有腐蚀性,毒性,或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员,测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤,测试后会对样品产生哪些变化;

3.客户需提供详细的样品资料,包括元素,主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论,商定最终测试条件;

4.测试人员与顾客通过QQ或邮件沟通,出现测试纠纷,邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据;请加QQ技术人员交流:82187958

5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品,一经发现将追究其法律责任。

薄膜材料制样方法介绍-改.jpg