二次离子飞行时间质谱测试(TOF-SIMS)

二次离子飞行时间质谱测试(TOF-SIMS)

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二次离子飞行时间质谱测试(TOF-SIMS)

  • 产品详情

PS:送样请附带委托测试单

飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)

u设备型号


德国IONTOF TOF.SIMS 5



u样品准备须知!!!



粉末样品50mg即可(TOF-SIMS 5 iontof型号的设备不测粉末样品),块状样品长宽1.1cm以内,厚度5mm以内,不能太大,小一些没有问题。

粉末样品一定要干燥脱水真空包装邮寄,粉末样品一般不做深度剖析,只做质谱和mapping

如果样品比较容易氧化或者吸水请提前联系测试负责人,需要真空封装好提前预约时间测试。样品在超高真空下必须稳定,无腐蚀性。

建议,样品用干净玻璃瓶盛装或铝箔纸包装,不要用有黏性的塑料袋/膜,或者粘胶,会有硅油在样品表面的,会遮盖样品表面的信息,TOF测试1-2nm的信息,对表面测试非常灵敏,如因包装问题导出样品表面污染测试出污染的信息,不做处理。



u样品测试填写要求注意事项


1.样品数量填写需要测试样品的数量

2.样品编号(名称):请输入该组样品编号,以逗号分隔,例如1,2,3

3.样品形态:粉末/块状/薄膜

4.是否是电池材料:若是电池材料请拆好,电解液洗了,样品干了后,真空包装再邮寄,并说明测试面。

5.样品成信信息:样品具体的成分信息

6.样品是否容易氧化需手套箱制样:容易氧化的样品,在空气中变质的样品,可选择手套箱制样,防止样品氧化,变质。

7.测试项目:质谱1个位置/质谱2个位置/质谱+数据分析/面扫+数据分析/深度剖析+数据分析。

1>.选择质谱测试,数据默认给质谱矫正后的数据,横坐标是M/Z,纵坐标是强度;

2>.选择质谱+数据分析,默认是测试一个位置的,若样品含量低需要找不同位置测试,则按位置收费;

3>.深度剖析需要处理三维图像和深度变化曲线谱图,比较耗费时间,故数据处理必须选择。对数据处理有特别的要求,比如某些离子的颜色有特殊要求,请务必备注清楚。否则后期加工修正,需要额外收取一定的费用。

4>.深度剖析模式提供的2Dmapping图,会有格子效应,效果不好,如果需要清晰的mapping图请选择面扫模式。

所有的数据展示可以看仪器详情数据并分析,分析出对应的原子和分子离子片段。

8.上传TOF-SIMS测试说明: 请您下载 "TOF-SIMS测试要求",详细填写后上传.







u测试提示:


1.可开正规测试发票,附带测试清单。

2.有腐蚀性,毒性,或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员,测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤,测试后会对样品产生哪些变化;

3.客户需提供详细的样品资料,包括元素,主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论,商定最终测试条件;

4.测试人员与顾客通过QQ或邮件沟通,出现测试纠纷,邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据;请加QQ和技术人员交流:82187958。微信:15071040697

5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品,一经发现将追究其法律责任。