☞点击下载：送样请附带“委托测试单”。TEM测试单模板（附件）

透射电子显微镜（TEM-EDS）

设备型号

1.电镜：美国FEI talos F200 EDS:FEI super-X EDS   

2.电镜：美国FEI Tecnai G2 F30

EDS:EDAX公司的Genesis

u项目简介：

1. 主要用于无机材料（粉体）微结构与微区组成的分析和研究，不适用于有机和生物材料；

2. 表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等；

3. 成像：衍衬像、高分辨像 (HRTEM)、扫描透射像；

4. 微区成分： EDS 能谱的点、线和面分析，电子选区衍射。

u样品测试填写要求注意事项

1.样品数量：填写需要测试样品的数量

2.样品编号：请输入该组样品编号，以逗号分隔，例如1,2,3

3.样品类型：纳米复合材料（均匀的线/棒/颗粒/片等结构）;核壳/包覆/负载/掺杂材料(非均质材料)；高分子/有机物(纤维素/纳米晶/脂质体/胶束等，有机物、不耐电子辐射类样品,不推荐做高分辨，纯有机推荐低电压TEM);量子点/碳点;有机框架材料(MOF/COF/ZIF/POF等多孔材料);合金

(金属块/FIB、离子减薄等处理过的块状金属样品,推荐做TEM云视频)

4.样品名称及主要成分：请填写具体物质/化学式/主要成分，比如：负载Ag颗粒的mof材料

5.样品状态：块体/薄膜样品若需FIB、离子减薄或包埋切片制样，请提前联工程师15071040697；块体/薄膜样品厚度要达到100nm以下才能进行TEM拍摄，建议走云视频方式预约：

液体样品因浓度不详，会影响制样及拍摄，不建议寄送液体样品；如寄送液体样品，且有需要稀释后再制样的请提前说明！若样品需要磷钨酸或者醋酸铀负染，请下单负染电镜

6.样品是否有磁性：弱磁：含有磁性元素，不能被磁铁吸起；强磁：可以被磁铁吸起。磁性样品请务必提供粉末验磁，若只能提供液体则按强磁算。

若样品中含有Gd,Tb,Dy,Ho,Er等稀土元素，也请用磁铁验证磁性的强弱。

请务必仔细检查您的样品，若发现以弱磁强磁充当非磁 或者 以强磁充当弱磁非磁，我们将可能无法安排您的实验，不承担以此造成的时间和样品损失；若因隐瞒样品真实情况造成仪器损伤，将按照实际情况进行赔付。

7.是否需要制样：普通铜网：适用拍摄低倍材料或生物样品；超薄：适用纳米晶、量子点等尺寸较小材料；微栅：适用管状、棒状、纳米团聚物样品；钼网：适用于含Cu样品能谱采集。

8.自己制样寄送的是：请备注清楚是FIB或者减薄等其他方式处理过的样品；或是已经制备在铜网上经过包埋切片后制备好的铜网

9.所需测试项目(可多选)：形貌(高分辨)、能谱点扫、能谱线扫、能普面扫(mapping)、衍射、stem (haadf)

形貌（高分辨）：会提供15张左右的图片，不单独测能谱点扫/线扫/面扫/衍射/stem（haadf）！正常能谱只能分析C及后面的元素！需要单独拍stem（haadf）模式下形貌，请选stem（haadf）模式。

衍射默认不转带轴。

能谱点扫：能得到元索半定是数据(默认打1个点能谱，超出需要额外收费)

能谱线扫：默认只做一个区域

能普面扫(mapping)：默认只做一个区域，提供一张stem模式的图片，需要多个区域另外收费

衍射：默认只做一个区域，由于粉末样品的局限性，在tem.stem、选区衍封时不能转晶带轴,块体样品如有需要，下单前请先联系工程师确认。

10.mapping是否需要元素半定量结果：需要请备注，未备注默认不提供。

uTEM样品制样图示