X射线荧光光谱分析仪(XRF测试)

X射线荧光光谱分析仪(XRF测试)

分享

X射线荧光光谱分析仪(XRF测试)

  • 产品详情

PS:送样请附带“委托测试单”。


X射线荧光光谱仪(XRF)

设备型号

PANalytical Axios 帕纳科Axios,铑靶


样品准备须知!!!

1,可测元素范围:常规测试范围11Na-92U,部分仪器可以测到O元素,如果需要测到O需要备注好;

2,XRF测试仅能回收没有使用的样品,若样品量较少,一般不能回收;

3,样品量要求:粉末样品需要至少2g;块状、薄膜样品:块状样品尺寸在2.5 ~4.5cm之间,标明测试面(表面光滑平整),样品在测试之前尽量干燥;液体样品提供20ml;

4,含碳元素含量超过10%的样品,请先将样品烧成灰,再测试;

5,XRF的检测限约200个ppm左右,如果低于这个检测限,不太适合做XRF,对100ppm以下的数据只能作为参考,有的仪器噪声峰都有可能比这个高,请谨慎选择测试方式;

6,由于受XRF光管Rh靶的影响,如若测试含Rh、Ru、In、Pd这类元素需提前说明。


样品测试填写要求注意事项

1.样品数量填写需要测试样品的数量

2.样品编号(名称)请输入该组样品编号,以逗号分隔,例如1,2,3

3.样品状态:粉末/液体/块体

4.样品主要成分

若您有重点关注的元素,请列出。常规测试范围11Na-92U,部分仪器可以测到O元素,如果需要测到O需要备注好

5.样品是否有毒性:是/否

请说明明确的有毒物质,有何危害以及如何防护

6. 样品在空气中是否稳定:稳定/不稳定

比如样品在空气中易吸水、分解等,对于不稳定的样品,可能会影响测试结果或损坏设备的风险。

7.是否需要烧矢量:不需要/需要

8.样品是否需要研磨:需要研磨/不需要研磨

以下情况需要研磨:1. 颗粒较大(不能过200目筛);2. 粉末无法压紧成块(需要加入硼酸研磨压片)

9.测试方法:压片法(常规)/直接微区测试/熔片法

压片法:简单、快速、节省;熔片法:制样精密度好;均匀性好,样品要求高;不可用熔片法测试的样品:Pb 、Bi、Sb、Sn、Ag、Hg 的化合物、硫化物、磷和砷的化合物、卤素和能析出卤素的物质、碱金属氧化物、氢氧化物、硝酸盐、亚硝酸盐、氰化物、氧化钡等含有腐蚀坩埚的物质,若隐瞒样品成分造成仪器损伤,需您承担责任。直接微区测试:运用仪器SPECTRO MIDEX,主要有用于定性分析。

直接微区测试无法测Na元素。

10..测试模式:单质/氧化物/单质+氧化物

默认采用压片法测试,如果需要熔片法,请联系工程师。

11. 碳含量是否超出10%:是/

超出10%的样品可能无法直接压片测试,需把样品烧成灰,测试灰分

12. 样品是否烧过:是/否

如果样品的C含量超过10%,还没有烧成灰,测试时候压不成片,影响测试周期和结果,自行承担结果




测试提示

1.可开正规测试发票,附带测试清单。

2.有腐蚀性,毒性,或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员,测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤,测试后会对样品产生哪些变化;

3.客户需提供详细的样品资料,包括元素,主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论,商定最终测试条件;

4.测试人员与顾客通过QQ,微信或邮件沟通,出现测试纠纷,邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据;请加QQ和技术人员交流。QQ:82187958。微信:15071040697

5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品,一经发现将追究其法律责任。