固体紫外漫反射数据处理图文
固体紫外漫反射数据怎么处理？今天铄思百检测小编带来的是“固体紫外漫反射DRS如何得到半导体的禁带宽度”
接下来会详细介绍下Origin怎么画图，并详细介绍如何求带隙值。
数据处理
如下图所示，A列和B列是导入的原始数。
为了画Tauc图，需要在C列计算出新的X轴数据，也就是1240/A;
D是Tauc的核心，计算公式是（B列的吸收值*波长对应的能量）^2，这个公式只适用于直接带隙的半导体材料。
最后将D列归一化到E列，这样有助于多个数据画图的坐标修改。
具体操作步骤如下动图所示：
找带隙值
找Tauc图的带隙最主要用到的是Tangent插件，目前Origin开发出一系列App，打开Origin-App功能直接搜索Tangent就出来了。具体找带隙值步骤如下：
1. 画图。这个大家都会，画好之后就要修改坐标，原则就是第一个起来的斜坡，所以要把坐标调小，不然大坐标也有斜坡，但很可能不是第一个斜坡。
2. 打开Tangent，然后挪到第一个斜坡，之后把这条切线用直线工具临摹下来。
3. 关闭Tangent，用描点工具（Draw Data）找到切线和X轴的坐标值，这就是带隙了。
另外，这个数据最好和文献对比下，看带隙是不是合理。
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图像合并
先画好两幅图，并修改格式，然后用 Layout功能将两幅图都导入，并调整好位置和大小即可。图片的格式修改可以参考之前的文章（ Origin高效排版神技能，一步快步步快，省出三天时间选刊），里面也详细介绍了Layout功能。
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