1、EA可以同时测C，H，N，O，S元素含量吗？

EA分为CHNS和O模式，O需要单独测。

2、哪些物质会对仪器有损坏：

强酸，强碱卤素元素都对仪器有损害，金属元素会对仪器寿命有影响 氟，磷酸盐或含重金属的样品可能会对分析结果或仪器零件的寿命产生影响。 含磷的化合物测定会影响仪器的使用寿命。 含磷的化合物高温燃烧+O2 生成五氧化二磷。五氧化二磷和样品燃烧后水分生成酸性的化合物。

3、能测定含金属元素的物质吗？

元素分析仪CHNS能够测定金属络合物，但有些金属微粒会随载气流动后进入吸附柱，从而影响吸附柱的使用寿命。请取下还原铜管上的塞子，往塞子内填充银丝，用此方法阻挡金属微粒。注意：填充的银丝不能塞的太紧，以免形成气阻。 其二：O的模式不能测定含金属的样品。含金属的样品会使催化剂失效。还原管内的银丝是吸收卤素的，这是说的在还原管堵头内添加银丝，如果不小心测了一个含金属的样品，则最好只能更换C粉后对以后样品的测定才有比较满意的结果。测氧不容易，有好多对样品的限制，如果平行性不好，唯一的办法是更换C粉（催化剂）

4、能测定含有碱金属的物质吗？

含大量碱金属（Al,Ka Li)的样品（土壤，沉淀物）需要添加至少样品重量三倍的粉末状的氧化钨。 防止土壤中的碱不和石英玻璃反应而损坏试管。关键是防止生成难燃烧的碱性硫酸盐，影响土壤样品氧化分解

5、能测定含F的物质吗？

含氟样品是添加氧化镁，共享文件内有介绍 测定完含氟样品之后需更换坩埚。不要连续使用坩埚去测定其他普通样品。 另外也可以在测定标准样品时加入等量的氧化镁，这样标样也加入氧化镁的空白。随后通过校正因子去校正被测样品，这样也消除了空白影响。由于氧化镁的空白值比较稳定，通过减空白也能去除空白对被测样品的影响。

6、能测定含Si的物质吗？

O模式不能测定含硅的物质，首先无机硅中的SiO2分解温度时1600度，因此这里面的氧是测不出来的，有机硅虽然可以分解，但是里面的硅可能和氧结合生成一氧化硅，结果偏低，另外，燃烧生成的硅的颗粒会使催化剂失效。 CHNS模式没有影响，注意，还原管口上的银丝填充，假如银丝已经收缩变小了，请重新填充一下，避免硅的微漏吹到SO2柱 。 有机硅的氧不只是影响仪器而且测不准的

7、CHNS模式测定土壤 CHNS模式，需在土壤样品上覆盖粉末状的氧化钨。 防止土壤中的碱不和石英玻璃反应而损坏试管。关键是防止生成难燃烧的碱性硫酸盐，影响土壤样品氧化分解

8、如何测定含P的化合物？

测定含磷的化合物需要在样品上覆盖1:1 V2O5+WO3的混合物，帮助C-P键断裂， 土壤中一般也含磷是微量的 土壤样品只需覆盖粉末状氧化钨即可 9、耗材质量问题 请各位不要使用非Elementar的耗材，我最近连续接到投诉：1.使用当地采购催化剂，引起S的空白偏高和测定数据的不稳定。2.当地供应的石英管的漏气 3.当地供应的石英棉耐高温<800C.4.当地采购的铜粒测S的数据偏低。等等。

10、 同样一个样测试出不同的结果？

原因比较多 1，样品均匀性问题，2.称样误差 3.氧化剂失效 4.样品吸潮 等等

11、 对于不含硫的物质，却有一个百分比，为什么？

请注意：假如S的空白峰面积值<100,其S%的值应该被忽略，这S的峰面积值小于曲线的最小值，所计算出的S%的结果将被忽略。假如需打印出报告，则需用减空白的方法，减去100的峰面积值，此时，打印出的报告是S=0 再则：S的空白值不会影响CHN%的测定