通过测试Mott-Schottky曲线得到平带电势
一、测试方法
在一定浓度的Na2SO4溶液中测试Mott-Schottky曲线,具体的测试方法如下:
配置一定浓度的Na2SO4溶液;
将一定量待测样品分散于一定比例的乙醇与水混合液中,超声分散后,将导电玻璃片浸入(注意控制浸入面积)或将一定量样品滴在一定面积的导电玻璃上,待其干燥后可进行测试(此步骤制样一定要均匀,尽可能薄。样品超声前可先进行研磨,超声时可在乙醇溶液中加入微量乙基纤维素或Nafion溶液);
三电极体系测试,电解液为Na2SO4溶液,参比电极为Ag/AgCl电极,对电极为铂网电极,工作电极为具有待测样品的导电玻璃;
在一定电压范围(一般为-1 ~ 1 V vs Ag/AgCl)进行测试,改变测试的频率(一般为500、1000以及2000 Hz),得到相应的测试曲线。具体的设置界面如图11和图12所示。
图11. 测试设置界面1
图12. 测试设置界面2
二、测试数据处理
测试的数据转换为txt格式,根据测得的数据可计算半导体材料的平带电势。对于半导体在溶液中形成的空间电荷层(耗尽层),可用以下公式计算其平带电势:
斜率为负时对应p型半导体,斜率为正时对应n型半导体。由于电极的电容由双电层电容(Cdl)以及空间电荷电容(Csc)两部分组成,且
但是一般Csc <<Cdl ,故有C= Csc = C,根据txt数据(图 13)的第一列(E)和第三列(Z ),分别转换为NHE电位以及Csc = C = C = -1/wZ = -1/2πfZ ,做出1/C2-E图即可得到Mott-Schottky曲线,将直线部分外推至横坐标轴,交点即为平带电势。一般对于n型半导体,导带底位置与平带电势一致,可认为平带电势为导带底位置。
图15. Co9S8和ZnIn2S4的Mott-Schottky曲线图
图16. P-In2O3和C-In2O3的Mott-Schottky曲线图
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