掠入射xrd角度如何确定

掠入射xrd角度如何确定？经常有人做这个测试，但是不知道GIXRD的角度怎么确定，今天铄思百检测小编带大家详细了解一下吧

一、掠入射GIXRD介绍

掠入射X射线衍射(GIXRD)是一种让×射线略过样品表面的技术，这种技术能够更真实全面地表征出薄膜（特别是共辄聚合物薄膜)的微结构。

测试光是平行光，相对于常规的衍射光来说能量较小，因此掠入射测试XRD的谱图绝对峰强相对较弱。但是平行光可以更好的关注薄膜表面的信息，也不容易测到基底，因此掠入射XRD专门用于测试薄膜样品。

薄膜尺寸没有特别要求，但是需测试面平整光洁，不要有遮挡物。

二、掠入射GIXRD的步长和扫描速度

步长决定了扫描的精细程度，扫描速度是由步长和每步的时间决定的，每步的时间长短会影响衍射峰的强度和信噪比。每步的时间越长，步长越小，则谱越精细，信噪比越高，可用于定量计算，如XRD精修等。

三、掠入射GIXRD角度确定

掠入射角度一般是0.1-5°，固定掠入射的角度越小测试的深度越浅，得到的样品信息越表面。粗扫速率一般是10°/min或12°/min。