武汉蔡司场发射扫描电镜(SEM测试）
武汉蔡司场发射扫描电镜(SEM测试）
武汉蔡司场发射扫描电镜(SEM测试）
- 产品详情
仪器名称：
场发射扫描电镜(SEM）
型 号：
SEM（蔡司Zeiss sigma300） EDS（OxfordX-MAX）
检测项目：
表面形貌观察（磁性、非磁样品、生物样均可）， EDS能谱（点扫、线扫、面扫），elements Mapping，EBSD
应用范围：
固体样品的微观形貌、结构，样品的微区元素成分、线分布、面分布，广泛应用于纳米技术、材料、物理、化学、环境科学等领域。
块体、粉末、磁性、生物样品都适用。
适合导电性不佳的样品形貌观察。
制样要求：
样品尺寸要求：块状样和生物样，直径小于26mm，高度小于15mm（样品中不得含有水分）
粉末样>0.02g
生物样品需要提前制好样，否则不予测试。
测试提示：
1.可开正规测试发票，附带测试清单。
2.有腐蚀性，毒性，或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员，测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤，测试后会对样品产生哪些变化；
3.客户需提供详细的样品资料，包括元素，主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论，商定最终测试条件；
4.测试人员与顾客通过QQ或邮件沟通，出现测试纠纷，邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据；请加QQ和技术人员交流：82187958。
5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品，一经发现将追究其法律责任。
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